更新時間：2024-06-16
設(shè)備型號：
設(shè)備價格：
訪問量：1261
| 品牌 | 其他品牌 | 貨號 | 123 |
|---|---|---|---|
| 規(guī)格 | CSF-45-120-2UH | 供貨周期 | 一個月以上 |
| 主要用途 | 機(jī)械設(shè)備 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
| 名稱 | 哈默納科 | 用途 | 半導(dǎo)體、機(jī)器人、機(jī)械設(shè)備 |
| 材質(zhì) | 鋼 | 是否進(jìn)口 | 是 |
估讀二者之間的間隙，取大間隙為線輪廓度誤差。用若干個截面的輪廓樣板測量面輪廓度誤差的示意圖。測量時，哈默納科轉(zhuǎn)臺坐標(biāo)諧波CSF-45-120-2UH將各樣板分別按規(guī)定方向放置在被測件的位置上，并讀取二者的間隙大小，取大間隙為面輪廓度誤差。
}3>投影法對于尺寸較小且薄的工件的線輪廓度誤差，可在投影儀上測量，將被測輪廓投影在投影屏上與極限輪廓〔按投影放大倍數(shù)事先畫出)比較，實(shí)際輪廓的投影應(yīng)在極限輪廓線之間。
C4)坐標(biāo)法利用有分度裝置的轉(zhuǎn)臺及坐標(biāo)測量指示器、工具顯微鏡、三坐標(biāo)測量機(jī)等儀器，可測出被測輪廓上各點(diǎn)的坐標(biāo)值，哈默納科轉(zhuǎn)臺坐標(biāo)諧波CSF-45-120-2UH并將測得值與理想輪廓的坐標(biāo)值比較，即可求出輪廓度誤差為用分度轉(zhuǎn)臺加指示器測量線輪廓度示意圖。
}5>多點(diǎn)比較測量法對于中、小型批量生產(chǎn)零件的輪廓度誤差，常用多點(diǎn)比較法來測量。即在多點(diǎn)測量裝置的測頭上，按被測輪廓的需要安裝多個測量傳感器〔或測微儀、指示表等)。測量時，先用輪廓樣板或樣件使所有傳感器同時校零位。然后移去樣板或樣件，并在相同的位置上放置被測什，此時各傳感器所測出變動量中的大值即為輪廓度誤差
